杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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二极管全动态老化测试系统

符合标准:

MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等试验标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的整流二极管全动态寿命试验。

技术特点:

50HZ工频供电,正半波加平均电流,负半波加高压VR。

每个试验回路的正向平均电流独立程序控制。

大电流的二极管采用面板式试验平台,散热效果好。

实时监测显示电流、电压等试验参数。


技术性能

表格 p38.png