Product Demonstration
符合标准:
MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。
技术特点:
适用范围广，可满足多种分立元器件的常温寿命老化。
具有手动、自动加电模式。
